Análisis de la estructura cristalina mediante rayos X
P7.1.2.1
Reflexión de Bragg: Determinación de constantes de red de monocristales
P7.1.2.2
Método de Laue: Estudio de la estructura cristalina de monocristales
P7.1.2.3
Método de Debye-Scherrer: Determinación de la distancia reticular interplanar de muestras de polvo policristalino
P7.1.2.4
Escaneo Debye-Scherrer: Determinación de las distancias de planos de red de pruebas policristalinas en polvo
Los rayos X son una herramienta esencial para determinar la estructura de los cristales. Los planos de la red cristalina son identificados mediante los índices de Miller h, k, l, y reflejan los rayos X solo si la condición de Laue o de Bragg se cumple. La distribución de las reflexiones permite calcular el parámetro de red de la estructura cristalina que es investigada.